1-技術原理

利用初級X射線光子激發待測物質中的原子，使之產生熒光(次級X射線)。不同元素發出的特征X射線能量和波長各不相同，因此通過對X射線的能量或者波長的測量可以對元素進行定性的分析；同時樣品受激發以后發射某一元素的特征X射線強度跟元素在樣品中的含量有關，因此可以對元素進行定量分析。

2-光學結構

分析儀由如下光學技術平臺構成，該技術平臺由X射線管、真空倉、探測器等光學組件構成。X射線管發出的光直接照射在待測樣品，激發待測物質中的原子，使之產生熒光，被探測器接收。

通過對熒光譜線進行分析，可以分析出待測樣品中的元素成分和含量。

3-元素光譜

金屬元素的光譜

不同元素的熒光X射線具有各自的特定波長，因此根據熒光X射線的波長可以確定元素的組成。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。

4-巖屑成分

可一次性實現多達十幾種元素的快速、無損、準確分析。

自動穩譜，消除譜峰水可載舟漂移影響，精確度達98%以上。

集成大量數據庫，并實時更新，目前可以識別巖屑成分多達上百種。

GW-4040型XRF巖屑元素分析儀，是本公司針對石油氣、天然氣、煤層氣、頁巖氣等清潔能源的開采而專門開發的高精度光學巖屑元素分析儀。可以很好的解決人工判斷的誤差性，以及傳統設備的不便捷性，更好了為測錄井提供原始數據。該設備小巧無輔助設備，目前在油田得到廣大客戶的使用。

產品主要用于以下場合：

● 油氣鉆井巖屑錄井；

● 物探巖石檢測等。